什么是测厚仪？
测厚仪是用来测量材料和物体厚度的仪器。常用于工业生产中对钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔等材料的厚度进行连续取样。
测厚仪可在线测量轧制带钢的厚度，并以电信号的形式输出。电信号输出到显示器和厚度自动控制系统，实现带材厚度的自动厚度控制（AGC）。
测厚仪有哪些？
常见的测厚仪包括伽马射线、β射线、X射线和同位素射线，它们放置在带钢轧机的出口或入口侧。设计安装测厚仪时，应尽量靠近工作辊，以减少板厚调整的滞后时间。测厚仪包括利用α射线、β射线和γ射线穿透特性的放射性测厚仪；使用超声波频率变化的超声波测厚仪；利用涡流测厚原理的涡流测厚仪等
测量材料本身厚度或材料表面镀层厚度的仪器。一些部件的厚度必须在制造和维修过程中进行测量。了解材料的厚度和规格。各点的均匀性，与材料的腐蚀磨损程度有关。有时必须测量材料表面覆盖层的厚度，以确保产品质量和生产安全。根据测量原理的不同，常用的测厚仪有超声波式、磁力式、涡流式和同位素式等。
- 超声波测厚仪：
超声波在各种介质中的声速不同，但在同一介质中的声速是恒定的。当超声波在介质中传播，遇到第二介质时，会被反射，可以测出超声波脉冲从发射到接收的间隔时间，间隔时间可以换算成厚度。此类测厚仪在电力行业应用最为广泛。常用于测量锅炉汽包、受热面管道、管道等的厚度，用于校核工件的结构尺寸。这些测厚仪大多是便携式的，体积类似于小型半导体收音机，厚度值的显示多为数字。对于钢，最大测量厚度约为 2000 毫米， - 磁性测厚仪：
测量各种导磁材料的磁阻时，测量值会发生变化。由于表面非导磁涂层的厚度。利用这种变化，可以测量覆盖层的厚度。常用于测量铁磁性金属表面的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层的厚度。 - 涡流测厚仪：
当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用，在金属体内产生涡流，磁场由该涡流产生的涡流对探头线圈产生反应，导致其产生阻抗。变化量与探头线圈距金属表面的距离（即覆盖层厚度）有关，因此可以根据探头线圈的变化间接测量金属表面覆盖层的厚度阻抗。它常用于测定铝或其他绝缘涂层在铝和铜表面的氧化膜厚度。 - 同位素测厚仪：
可测量薄钢、薄铜、薄铝、硅钢、合金板等金属材料和橡胶板、塑料薄膜、纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线和β射线.
红外测厚仪可以用在什么地方？
- 纸张基材：
- 粘合剂涂层：水性或油性，湿式或干式，精度为0.15g/m2。
- 涂胶：热熔胶，干式测试，精度0.2g/m2。
- 粘土/乳胶涂料：湿法测试，精度0.2g/m2，需保持溶液浓度。
- 力架涂层：湿试验或干试验，精度为0.15g/m2。
- 微胶囊包衣：湿法试验，精度0.2g/m2，需要保持溶液浓度。
- 挤出塑料涂层：干式试验，精度为0.1g/m2。
- 塑料乳液涂料：湿法试验或干法试验，精度为0.2g/m2。
- 蜡涂层：干法测量，精度为0.2g/m2。
- 薄膜基材：
- 水性涂胶：湿法测试或干法测试，干法测试可能受涂膜不同影响，精度为0.2g/m2。
- 水性乳液涂料：湿法试验，精度为0.15g/m2。
- 金属基材：
- 粘合剂涂层：与纸张基材相同。
- 搪瓷漆：由于搪瓷漆通常很少见，需要定制专用的长波测试头。
- 塑料涂层：干式试验，精度为0.1g/m2。
- 涂蜡：干法测试，精度为0.15g/m2。
X-RAY测厚仪如何使用？
X射线广泛应用于各种无损检测。除了常见的穿透检查外，还可以通过激发元素产生荧光的特性进行元素分析。除了对元素进行简单的定性和定量分析外，还可以利用X射线荧光（XRF）的应用，通过该技术分析镀层的厚度。通过金属涂层上返回信号的X射线激发，可以区分涂层的厚度。如下例所示，铜 (Cu) 基板镀有锡 (Sn)。并根据两个信号之间的关系计算出镀锡层的厚度。
- 五金材料：
金属涂层应用于许多五金材料。例如，螺丝紧固件通常涂有一层锌或镍。除了美观之外，功能是防止划伤和腐蚀。涂层的厚度是衡量这两种功能效果的重要指标。因此，业界将通过X-RAY测厚仪来确认螺丝紧固件的镀层厚度，作为质量管理的重点项目。同时，可以进一步整合生产过程参数数据，做成AIoT（智能生产工厂）。 - 电子行业：
许多高单价电子产品如CPU、PCB、各种IC基板/基板（手机、5G设备、影像卡IC）在表面处理过程中都会有电镀工艺。涂层厚度的检查和确认很重要。其中，常见的表面制造工艺有ENIG和ENEPIG。金属是一层层镀上去的。每层的厚度大约为几微米（um），不同涂层之间的表面清洁要求相当严格。希望过程中尽量减少接触。X-RAY测厚分析是一种非接触式分析方法，是表面处理过程测量的最佳解决方案。 - 其他行业：
医疗产品包装膜、电池外壳测厚、汽车相关零部件等都是X-RAY测厚仪常见的应用领域。
什么是测厚仪校准？
超声波测厚仪通过回波的精确计时获得被测样品的厚度读数。要将这些时间测量值转换成厚度测量值，必须根据被测材料的声速、仪器所需的各种必要零偏值、探头类型或回波形状对仪器进行预置。这个过程通常被称为测厚仪校准。任何超声波测量的准确性都取决于准确和仔细的校准。不正确的校准会导致不准确的厚度读数。幸运的是，校准过程通常相对简单。
各种材料和探头的许多不同校准可以存储在仪表中并快速调用。永远记得重新校准，或调用适当的预设校准。当被测材料或探头发生变化，或被测材料的温度发生明显变化时。此外，建议定期检查已知厚度的样品，以验证量规是否正常工作。
测厚仪使用注意事项：
- 试验时应注意标准件的金属磁性和表面粗糙度应与试件相近。
- 测量时保持侧头垂直于样品表面。
- 测量时注意母材的临界厚度。如果大于这个厚度，则测量不受母材厚度的影响。
- 测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此，在弯曲的样品表面上进行测量是不可靠的。
- 测量前要注意周围的其他电器设备是否会产生磁场。它会干扰磁性测厚方法。
- 测量时注意不要在试件的内角和边缘附近测量，因为一般的测厚仪对试件表面形状的突然变化非常敏感。
- 测量时保持压力恒定，否则会影响测量读数。
- 测试时注意仪器探头与试件直接接触，使超声波测厚仪去除对面的附着物。
